مهندسی ، قابلیت اطمینان و تشخیص لیزر نیمه هادی: رویکرد عملی به دستگاههای با قدرت بالا و تک حالت
Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics: A Practical Approach to High Power and Single Mode Devices
نویسنده: Peter W. Epperlein(auth.)
ناشر: John Wiley & Sons Ltd, 2013 feb 22
سال انتشار: 2013
تعداد صفحات: 512
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 20 مگابایت